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表面銅膜厚計/M855C-760F
表面銅膜厚計/M855C-760F
プリント基板の表面銅厚み測定とスルーホール銅厚み測定。
抵抗値を計測して膜圧に換算することにより、サンプル側面や裏面、内層の銅コーティングの影響を受けずに正確な表面銅厚みを測定できます。
オプションのETPプローブを接続すれば、渦電流式によるスルーホール銅厚みの計測も出来ます。
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